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Common Reflection Surface(CRS) stack,a new stacking technique compared with conventional common midpoint(CMP) stack,is a zero-offset profile imaging method independent of macro-model.
英
美
释义
共反射面元(CRS)叠加与常规共中心点(CMP)叠加相比是一种崭新的叠加方法。 它是一种不依赖于宏观速度模型的零炮检距剖面成像方法,它的实现只依赖于3个波场属性参数的确定。
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