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XRD, SEM, TEM and HRTEM were applied to analyze the phase composition and microstructure, as well as crystal defects in the RPS TiN coating.
英
美
释义
利用XRD、SEM、TEM及HRTEM等分析手段研究分析了涂层的结构、微观组织,以及涂层内的晶体缺陷。
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