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The samples were characterized by X-ray diffraction (XRD), Scanning electronic microscope (SEM), photoluminescence (PL) and X-ray excited luminescence (XEL) spectra.
英
美
释义
分别以X-射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、光致发光(PL)光谱及X-射线激发的发光(XEL)光谱对样品进行了表征。
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