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The influence of modulation period and working pressure on structures and mechanical properties of the ZrC/ZrB2 multilayered films are analyzed by using XRD,SEM,profiler and nano indenter.
英
美
释义
通过XRD,SEM和表面轮廓仪以及纳米力学测试系统,分析了调制周期和工作气压对多层膜生长结构和力学性能的影响。
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