High resolution electron microscope (HRTEM) measurement and energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS) show no clusters obviously and atomic analysis on the surface.

• 高解像能穿透式电子显微镜以及X光能量散布光谱仪分析出离子布植过后奈米线内无明显的丛聚及第二相现象和在奈米线表面上的成份分析。