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During testable design, the testability of single fault and multi-faults in circuit can be judged by changing topological structure, numbers and location of accessible nodes.
英
美
释义
在可测性设计过程中,通过适当地改变拓扑结构与可及节点的个数和位置,对电路中单故障和多故障的可测性予以判定。
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