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Characterization of its microstructures with an atomic force microscope (AFM) shows that the deposition rate and the substrate temperature significantly affect the stress distribution.
英
美
释义
原子力显微镜(AFM)结果显示,不同的沉积速率和沉积温度下制备的二氧化钛薄膜具有不同的晶体结构和应力分布;
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