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Atomic force microscopy (AFM) images show an extremely smooth surface obtained, with a root-mean-square (rms) roughness of about 0.16 nm for a 12 nm thick HfO_2 film.
英
美
释义
原子力显微镜(AFM)结果表明薄膜表面非常平整;无空洞。 对12nm厚的HfO_2而言;其均方根粗糙度为0.;16nm。
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